Phần tử quang học nhiễu xạ (DOE) định hình chùm tia hình chữ nhật phẳng 532nm
Phần tử quang học nhiễu xạ (DOE) định hình chùm tia hình chữ nhật phẳng 532nm
Cấu trúc vi mô bề mặt của một phần tử quang học nhiễu xạ làm thay đổi pha truyền của sóng ánh sáng tới, từ đó tạo ra sự điều biến pha trên ánh sáng tới. Kết quả là, chùm tia được tách thành nhiều bậc nhiễu xạ riêng biệt. Bằng cách điều chỉnh trọng số của các bậc này và khoảng cách đến mặt phẳng quan sát, người ta có thể tạo ra sự giao thoa tăng cường tại một vị trí được chọn—thường là ở vô cực hoặc tại mặt phẳng tiêu điểm của thấu kính—nhờ đó tạo ra mô hình cường độ chiếu sáng cần thiết.
Bộ lọc DOE này được chế tạo đặc biệt cho các hệ thống laser xanh 532 nm, chuyển đổi tín hiệu đầu vào Gaussian tiêu chuẩn thành tín hiệu hình chữ nhật có đỉnh phẳng kích thước 380 µm × 150 µm, với các chuyển tiếp cạnh sắc nét và phân bố cường độ đồng đều.
Cấu trúc pha 16 cấp của nó mang lại hiệu suất nhiễu xạ tổng thể vượt quá 90% và độ đồng nhất năng lượng tốt hơn 90% RMS, giúp triệt tiêu hiệu quả các điểm nóng và giảm thiểu hư hỏng do nhiệt trong các ứng dụng gia công chính xác.
Thiết bị được đặt trong một vỏ có đường kính ngoài Φ25,4 mm (1 inch) với khẩu độ trong suốt Φ15 mm, giúp dễ dàng tích hợp vào hầu hết các giá đỡ quang học và cụm bánh xe lọc.
DANH MỤC SẢN PHẨM
Wavelength đã tập trung vào việc cung cấp các sản phẩm quang học có độ chính xác cao trong suốt 20 năm qua.
